La Fluorescencia de Rayos X se fundamente en la excitación, por medio de Rayos X, de los electrónes atómicos en los niveles más energéticos (K, L y M principalmente) de las muestras irradiadas. Los electrones así excitados relajan su energía mediante la emisión de fotones de R-X característicos. Utilizando detectores para espectrometría de R-X, Si(Li) en este caso, se puede determinar la energía y la intensidad de estos fotones, lo que da información cualitativa y cuantitativa sobre la composición de las muestras.

Sus aplicaciones son muy amplias, ya que permite estudiar diversos tipos de matrices y materiales, tales como muestras metálicas, cristalinas, amorfas, orgánicas, etc.

Con esta geometría (TXRF) la técnica se puede utilizar para la determinación de elementos traza (partes por millón) en distintos materiales, como muestras clínicas, derivados del petróleo, alimentos, residuos industriales y urbanos, etc.

Detalle del tubo generador de Rayos X.

Espectrómetro para Fluorescencia de Rayos X (TXRF). Detector SiLi CANBERRA modelo SL30180 con tarjeta multicanal MCA S100 y fuente generadora de R-X SIEMENS. En la adquisición de los espectros se utiliza el programa MCA y para el análisis cuantitativo el software AXIL.