Difractómetro de rayos X (XRD) Philips, Fuente de alto voltaje (H.V) y Tubos de R-X de Cu y Mo. Goniómetro de precisión con sistema de control digital
Esta es una técnica insustituible para la caracterización de materiales sólidos. Suministra información de la estructura cristalográfica del material analizado. Es decir cuales son los compuestos contenidos en la muestra.
Es una metodología de caracterización que es complementaria al análisis químico, el cual suministra solamente la información de los elementos contenidos. La Difracción de Rayos-X permite saber cuales de varios posibles compuestos cristalinos existen en la muestra. Tiene múltiples y variadas aplicaciones en campos diversos como la física, la química, la ciencia de los materiales, la mineralogía, geología, metalurgia extractiva, metalurgia física, cerámicas, polímeros, farmacia, etc.
Las facilidades del laboratorio se restringen a la difractometría de polvos. En este caso se lleva la muestra a la forma de partículas finas, las cuales son colocadas en porta muestras como el indicado en la fotografía, para ser introducida en el goniómetro. En el caso de muestras metalúrgicas o, por ejemplo, en el estudio de productos de corrosión, se presenta la muestra al instrumento como una probeta de unos 2 x 3 cm analizándose la superficie plana.
Difractómetro de rayos X (XRD) PHILIPS
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Controles del alto voltaje (30 kV) y la corriente (20 mA) del tubo generador de R-X y graficador automático |
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| Detalle de una muestra de arcilla montada en el Goniómetro y proceso de preparación de muestras en Mortero de Ágata. | |